BINETSIMONTEST

Binet-Simon-Test

 

[bi'nɛ si'mɔ̃-], von A. Binet und Théodore Simon (* 1873, ✝ 1961) 1908 (ursprüngliche Form 1905) entwickelter Intelligenztest, der für jedes Lebensalter zwischen 3 und 15 Jahren eine Gruppe (Staffel) von altersspezifischen Intelligenzaufgaben enthält und zur Bestimmung des individuellen Intelligenzalters dient. Der Binet-Simon-Test fand in zahlreichen Bearbeitungen internationale Verbreitung und wird noch heute verwendet. Bekannteste amerikanische Version ist der Stanford-Revision-Test. W. Stern entwickelte im Anschluss an Binet die Messgröße des Intelligenzquotienten.