Auger-Elektronen-Spektroskopie: übersetzung
Au|ger-E|lek|t|ro|nen-Spek|t|ro|sko|pie [o'ʒe:-; nach dem frz. Physiker P. V. Auger, (1899–1993)]; Abk.: AES: ein in der Oberflächenanalyse angewandtes Verfahren der ↑ Elektronen-Spektroskopie, bei dem man die für ein chem. Element charakteristische kinetische Energie eines Sekundärelektrons (Auger-Elektron) misst, das von dem durch Elektronen strahlen oder Röntgenstrahlen (XAES) ionisierten Atom emittiert wird. Bei einer verwandten Methode ermittelt man das ↑ Auftrittspotential, bei dem die Auger-Elektronen emittiert werden (Auger-Elektronen-Auftrittspotentialspektroskopie (Abk.: AEAPS).